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  • SURF-CAL尺度标准微粒Duke PD-802 SURF-CAL 尺度标准微粒

    NIST溯源尺度标准,用于需要高度视觉反差的尺度标和参考应用领域。SUR-CAL 为各种硅晶片的表面性状的检测和标提供了便利的工具。产品的粒径复合仪器厂家所需的各种规格。SURF-CAL系列产品完符合SEMI行业协会的建立的SSIS标指导准则, 微粒粒径纵贯0.047到3.0微米的范围, 覆盖了半导体技术蓝图(ITRS)所义的关键质控点

    更新日期:2017-06-23
    型号:SURF-CAL尺度标准微粒
    厂商性质:经销商
    浏览量:1343
  • SURF-CAL尺度标准微粒Duke PD-800 SURF-CAL 尺度标准微粒

    NIST溯源尺度标准,用于需要高度视觉反差的尺度标和参考应用领域。SUR-CAL 为各种硅晶片的表面性状的检测和标提供了便利的工具。产品的粒径复合仪器厂家所需的各种规格。SURF-CAL系列产品完符合SEMI行业协会的建立的SSIS标指导准则, 微粒粒径纵贯0.047到3.0微米的范围, 覆盖了半导体技术蓝图(ITRS)所义的关键质控点

    更新日期:2016-05-08
    型号:SURF-CAL尺度标准微粒
    厂商性质:经销商
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  • SURF-CAL尺度标准微粒Duke PD-500 SURF-CAL 尺度标准微粒

    NIST溯源尺度标准,用于需要高度视觉反差的尺度标和参考应用领域。SUR-CAL 为各种硅晶片的表面性状的检测和标提供了便利的工具。产品的粒径复合仪器厂家所需的各种规格。SURF-CAL系列产品完符合SEMI行业协会的建立的SSIS标指导准则, 微粒粒径纵贯0.047到3.0微米的范围, 覆盖了半导体技术蓝图(ITRS)所义的关键质控点

    更新日期:2016-05-08
    型号:SURF-CAL尺度标准微粒
    厂商性质:经销商
    浏览量:1384
  • SURF-CAL尺度标准微粒Duke PD-365 SURF-CAL 尺度标准微粒

    NIST溯源尺度标准,用于需要高度视觉反差的尺度标和参考应用领域。SUR-CAL 为各种硅晶片的表面性状的检测和标提供了便利的工具。产品的粒径复合仪器厂家所需的各种规格。SURF-CAL系列产品完符合SEMI行业协会的建立的SSIS标指导准则, 微粒粒径纵贯0.047到3.0微米的范围, 覆盖了半导体技术蓝图(ITRS)所义的关键质控点

    更新日期:2017-06-12
    型号:SURF-CAL尺度标准微粒
    厂商性质:经销商
    浏览量:1393
  • SURF-CAL尺度标准微粒Duke PD-215 SURF-CAL 尺度标准微粒

    NIST溯源尺度标准,用于需要高度视觉反差的尺度标和参考应用领域。SUR-CAL 为各种硅晶片的表面性状的检测和标提供了便利的工具。产品的粒径复合仪器厂家所需的各种规格。SURF-CAL系列产品完符合SEMI行业协会的建立的SSIS标指导准则, 微粒粒径纵贯0.047到3.0微米的范围, 覆盖了半导体技术蓝图(ITRS)所义的关键质控点。

    更新日期:2016-05-09
    型号:SURF-CAL尺度标准微粒
    厂商性质:经销商
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  • SURF-CAL尺度标准微粒Duke PD-204 SURF-CAL 尺度标准微粒

    NIST溯源尺度标准,用于需要高度视觉反差的尺度标和参考应用领域。SUR-CAL 为各种硅晶片的表面性状的检测和标提供了便利的工具。产品的粒径复合仪器厂家所需的各种规格。SURF-CAL系列产品完符合SEMI行业协会的建立的SSIS标指导准则, 微粒粒径纵贯0.047到3.0微米的范围, 覆盖了半导体技术蓝图(ITRS)所义的关键质控点

    更新日期:2017-06-14
    型号:SURF-CAL尺度标准微粒
    厂商性质:经销商
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